X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720╃✘：Ux-720新一代國產專業鍍層厚度檢測儀☁▩╃▩，採用高解析度的Si-PIN（或者SDD矽漂移探測器）☁▩╃▩，測量精度和測量結果業界*₪╃▩。 採用了FlexFP-Multi技術☁▩╃▩，無論是生產過程中的質量控制☁▩╃▩，還是來料檢驗和材料效能檢驗中的隨機抽檢和全檢☁▩╃▩，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求₪╃▩。

X射線熒光鍍層測厚儀測量元素範圍╃✘：鈦Ti22---鈾U92； 測量5層（4層鍍層+底材層）鍍層☁▩╃▩，同時分析15種元素☁▩╃▩，自動修正X射線重疊譜線； 測量精度高↟·│、穩定性好☁▩╃▩，測量結果*確至μin； 快速無損測量☁▩╃▩，測量時間短☁▩╃▩，10秒內得出測量結果； 可分析固體↟·│、溶液；定性↟·│、半定量和定量分析； 進行貴金屬檢測₪╃▩。

TREK重錘式表面電阻測試儀 無損檢測儀 Trek-152-1 表面電阻測試儀是用來測量各種傳導↟·│、損耗↟·│、絕緣的面電阻

X射線熒光鍍層測厚儀品牌╃✘：本著對插接件等細小結構件的單鍍層和多鍍層厚度的測量☁▩╃▩，Ux-700更專業小樣品測試腔的設計☁▩╃▩，帶有聚焦光點的準直器☁▩╃▩，高解析度的探測系統☁▩╃▩，眾多Z佳條件的選擇☁▩╃▩，保證測試結果的準確性₪╃▩。X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用☁▩╃▩，提高了大批次生產電鍍產品的檢驗條件☁▩╃▩，無損↟·│、快速和更準確的特點☁▩╃▩，對在電子和半導體工業中品質的提升有了檢驗的保障₪╃▩。

菲希爾膜厚儀磁性渦流兩用型塗鍍層測厚儀 新款DUALSCOPE MPO塗鍍層測厚儀採用廣受承認的Fischer探頭技術☁▩╃▩，是較為小巧並能滿足您測量需要的儀器₪╃▩。它測量精度高↟·│、介面友好且結實耐用₪╃▩。對不復雜工件的現場測量尤為理想₪╃▩。內建探頭☁▩╃▩，由磁感應及電渦流方法☁▩╃▩，可快速無損地測量塗鍍層厚度₪╃▩。

精密塗鍍層測厚儀指標式厚度儀 三十多年來 MIKROTEST已成為被廣泛應用的自動測定塗鍍層厚度的儀器₪╃▩。德國的“訣竅”說明它在工藝技術及精度方面☁▩╃▩，具有磁性塗層測厚儀的高水準₪╃▩。所有儀器均符合DIN↟·│、ISO↟·│、BS及ASTM標準₪╃▩。