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  • X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720╃✘:Ux-720新一代國產專業鍍層厚度檢測儀☁▩╃▩,採用高解析度的Si-PIN(或者SDD矽漂移探測器)☁▩╃▩,測量精度和測量結果業界*₪╃▩。 採用了FlexFP-Multi技術☁▩╃▩,無論是生產過程中的質量控制☁▩╃▩,還是來料檢驗和材料效能檢驗中的隨機抽檢和全檢☁▩╃▩,我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求₪╃▩。
  • X射線熒光鍍層測厚儀測量元素範圍╃✘:鈦Ti22---鈾U92; 測量5層(4層鍍層+底材層)鍍層☁▩╃▩,同時分析15種元素☁▩╃▩,自動修正X射線重疊譜線; 測量精度高↟·│、穩定性好☁▩╃▩,測量結果*確至μin; 快速無損測量☁▩╃▩,測量時間短☁▩╃▩,10秒內得出測量結果; 可分析固體↟·│、溶液;定性↟·│、半定量和定量分析; 進行貴金屬檢測₪╃▩。
  • TREK重錘式表面電阻測試儀 無損檢測儀 Trek-152-1 表面電阻測試儀是用來測量各種傳導↟·│、損耗↟·│、絕緣的面電阻
  • X射線熒光鍍層測厚儀品牌╃✘:本著對插接件等細小結構件的單鍍層和多鍍層厚度的測量☁▩╃▩,Ux-700更專業小樣品測試腔的設計☁▩╃▩,帶有聚焦光點的準直器☁▩╃▩,高解析度的探測系統☁▩╃▩,眾多Z佳條件的選擇☁▩╃▩,保證測試結果的準確性₪╃▩。X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用☁▩╃▩,提高了大批次生產電鍍產品的檢驗條件☁▩╃▩,無損↟·│、快速和更準確的特點☁▩╃▩,對在電子和半導體工業中品質的提升有了檢驗的保障₪╃▩。
  • 菲希爾膜厚儀磁性渦流兩用型塗鍍層測厚儀 新款DUALSCOPE MPO塗鍍層測厚儀採用廣受承認的Fischer探頭技術☁▩╃▩,是較為小巧並能滿足您測量需要的儀器₪╃▩。它測量精度高↟·│、介面友好且結實耐用₪╃▩。對不復雜工件的現場測量尤為理想₪╃▩。內建探頭☁▩╃▩,由磁感應及電渦流方法☁▩╃▩,可快速無損地測量塗鍍層厚度₪╃▩。
  • 精密塗鍍層測厚儀指標式厚度儀 三十多年來 MIKROTEST已成為被廣泛應用的自動測定塗鍍層厚度的儀器₪╃▩。德國的“訣竅”說明它在工藝技術及精度方面☁▩╃▩,具有磁性塗層測厚儀的高水準₪╃▩。所有儀器均符合DIN↟·│、ISO↟·│、BS及ASTM標準₪╃▩。
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