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  • 和伍超聲掃描顯微鏡 裝置整機尺寸750mm(長)×700mm(寬)×1350mm(高)·╃。安裝方案基於空間佔用最小化和維護/服務條件需要▩•◕·▩,保證在裝置周圍留有500mm的空間▩•◕·▩,可以方便工作人員進行操作◕↟•、維護·╃。
  • 和伍水浸超聲掃描顯微鏡 超聲掃描顯微鏡(SAT)是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像裝置▩•◕·▩,主要利用高頻超聲波▩•◕·▩,對各類半導體器件◕↟•、材料進行檢測▩•◕·▩,能夠檢測出樣品內部的氣孔◕↟•、裂紋◕↟•、夾雜和分層等缺陷▩•◕·▩,並以圖形的方式直觀展示·╃。在掃描過程中▩•◕·▩,不會對樣品造成損傷▩•◕·▩,不會影響樣品效能▩•◕·▩,可有效滿足新能源◕↟•、半導體◕↟•、電力電子◕↟•、熱管理材料◕↟•、金剛石複合材料◕↟•、碳纖維複合材料等行業需求·╃。
  • 日本電子熱場發射掃描電子顯微鏡 適用於奈米材料◕↟•、化學◕↟•、新材料◕↟•、半導體器件的觀察和分析·╃。
  • 日本電子掃描電鏡 ◕↟•、日本JEOL掃描電子顯微鏡JSM-IT200 InTouchScope · JSM-IT200 InTouchScope™ 是一款更簡潔◕↟•、更易於使用且價效比高的掃描電子顯微鏡·╃。
  • 日本電子掃描電子顯微鏡 JCM-700強大的“Zeromag“功能▩•◕·▩,讓您從光學顯微鏡的觀察方式▩•◕·▩,輕鬆的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察·╃。“Live Analysis“則實現了SEM影像觀察時實時的EDS成份分析·╃。
  • 掃描探針顯微鏡(SPM)是在樣品表面用微小的探針進行掃描▩•◕·▩,透過高倍率觀察三維形貌和區域性物理特性的顯微鏡總稱·╃。懸臂和樣品始終保持接觸▩•◕·▩,控制懸臂與樣品之間的相互作用保持一定狀態下▩•◕·▩,掃描樣品表面的模式·╃。這是Z典型的AFM模式▩•◕·▩,可以得到目前Z高解析度影象·╃。懸臂在諧振頻率附近震動·╃。在懸臂震動的狀態下懸臂接近樣品時振幅會發生變化·╃。
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