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UX-720 X射線熒光鍍層測厚儀

X射線熒光鍍層測厚儀

  • 型   號◕☁:UX-720
  • 價   格◕☁:

X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720◕☁:Ux-720新一代國產專業鍍層厚度檢測儀·│↟,採用高解析度的Si-PIN(或者SDD矽漂移探測器)·│↟,測量精度和測量結果業界*·☁╃☁✘。 採用了FlexFP-Multi技術·│↟,無論是生產過程中的質量控制·│↟,還是來料檢驗和材料效能檢驗中的隨機抽檢和全檢·│↟,我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求·☁╃☁✘。

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X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720  華唯

 

   配置型號

探測器

X光管

高壓電源

Ux-720 M

AMPTEK Si-PIN X-123(進口)

上海科頤維(國產)

咸陽威思曼(國產)

Ux-720 H

AMPTEK Si-PIN X-123(進口)

上海科頤維(國產)

spellman(進口)

Ux-720 S

AMPTEK SDD X-123(進口)

上海科頤維(國產)

spellman(進口)

 

產品指標◕☁:

測厚技術◕☁:X射線熒光測厚技術

測試樣品種類◕☁:金屬鍍層·│↟,合金鍍層

測量下限◕☁:0.003um

測量上限◕☁:30-50um(以材料元素判定)

測量層數◕☁:10層

測量用時◕☁:30-120秒

探測器型別◕☁:Si-PIN電製冷   

探測器解析度◕☁:145eV

高壓範圍◕☁:0-50Kv·│↟,50W

X光管引數◕☁:0-50Kv·│↟,50W·│↟,側窗類;

光管靶材◕☁:Mo靶;

濾光片◕☁:3種自動切換;

CCD觀察◕☁:260萬畫素

微移動範圍◕☁:XY15mm

輸入電壓◕☁:AC220V·│↟,50/60Hz

測試環境◕☁:非真空條件

資料通訊◕☁:USB2.0模式

準直器◕☁:Ø1mm·│↟,Ø2mm·│↟,Ø4mm

軟體方法◕☁:FlexFP-Mult

工作區◕☁:開放工作區 自定義

樣品腔◕☁:330×360×100mm

 

X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720產品介紹◕☁:

    Ux-720新一代國產專業鍍層厚度檢測儀·│↟,採用高解析度的Si-PIN(或者SDD矽漂移探測器)·│↟,測量精度和測量結果業界·☁╃☁✘。

    採用了FlexFP-Multi技術·│↟,無論是生產過程中的質量控制·│↟,還是來料檢驗和材料效能檢驗中的隨機抽檢和全檢·│↟,我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求·☁╃☁✘。

    Ux-720微移動平臺和高畫質CCD搭配·│↟,旋鈕調節設計在殼體外部·│↟,觀察移動位置簡單方便·☁╃☁✘。

    X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用·│↟,提高了大批次生產電鍍產品的檢驗條件·│↟,無損◕↟·、快速和更準確的特點·│↟,對在電子和半導體工業中品質的提升有了檢驗的保障·☁╃☁✘。

    Ux-720鍍層測厚儀採用了華唯技術FlexFp -Multi·│↟,不在受標準樣品的限制·│↟,在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度·│↟,測試結果經得起科學驗證·☁╃☁✘。

    樣品移動設計為樣品腔外部調節·│↟,多點測試時移動樣品方便快捷·│↟,有助於提升效率·☁╃☁✘。

    設計更科學·│↟,軟硬體配合·│↟,機電聯動·│↟,輻射安全高於國標GBZ115-2002要求·☁╃☁✘。

    軟體操作具有操作人員分級管理許可權·│↟,一般操作員◕↟·、主管使用不同的使用者名稱和密碼登陸·│↟,測試的記錄報告同時自動新增測試人的登入名稱·☁╃☁✘。

 

Ux-720標準配件

樣品固定支架1支

視窗支撐薄膜◕☁:100張

保險管◕☁:3支

計算機主機◕☁:品牌+雙核

顯示屏◕☁:19吋液晶

印表機◕☁:噴墨印表機

 

Ux-720可選配件

可升級為SDD探測器

    可以實現全自動一鍵操作功能·│↟,準直器自動切換·│↟,濾光片自動切換·│↟,開蓋隨意自動停·│↟,樣品測試照片自動拍照◕↟·、自動儲存·│↟,測試報告自動彈出·│↟,供應商資訊自動篩選和儲存 

 

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