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X射線熒光鍍層測厚儀
X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720◕☁：Ux-720新一代國產專業鍍層厚度檢測儀·│↟，採用高解析度的Si-PIN（或者SDD矽漂移探測器）·│↟，測量精度和測量結果業界*·☁╃☁✘。 採用了FlexFP-Multi技術·│↟，無論是生產過程中的質量控制·│↟，還是來料檢驗和材料效能檢驗中的隨機抽檢和全檢·│↟，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求·☁╃☁✘。
X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720 華唯
配置型號 | 探測器 | X光管 | 高壓電源 |
Ux-720 M | AMPTEK Si-PIN X-123(進口) | 上海科頤維（國產） | 咸陽威思曼(國產) |
Ux-720 H | AMPTEK Si-PIN X-123(進口) | 上海科頤維（國產） | spellman(進口) |
Ux-720 S | AMPTEK SDD X-123(進口) | 上海科頤維（國產） | spellman(進口) |
產品指標◕☁：
測厚技術◕☁：X射線熒光測厚技術
測試樣品種類◕☁：金屬鍍層·│↟，合金鍍層
測量下限◕☁：0.003um
測量上限◕☁：30-50um（以材料元素判定）
測量層數◕☁：10層
測量用時◕☁：30-120秒
探測器型別◕☁：Si-PIN電製冷
探測器解析度◕☁：145eV
高壓範圍◕☁：0-50Kv·│↟，50W
X光管引數◕☁：0-50Kv·│↟，50W·│↟，側窗類；
光管靶材◕☁：Mo靶；
濾光片◕☁：3種自動切換；
CCD觀察◕☁：260萬畫素
微移動範圍◕☁：XY15mm
輸入電壓◕☁：AC220V·│↟，50/60Hz
測試環境◕☁：非真空條件
資料通訊◕☁：USB2.0模式
準直器◕☁：Ø1mm·│↟，Ø2mm·│↟，Ø4mm
軟體方法◕☁：FlexFP-Mult
工作區◕☁：開放工作區 自定義
樣品腔◕☁：330×360×100mm
X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720產品介紹◕☁：
Ux-720新一代國產專業鍍層厚度檢測儀·│↟，採用高解析度的Si-PIN（或者SDD矽漂移探測器）·│↟，測量精度和測量結果業界·☁╃☁✘。
採用了FlexFP-Multi技術·│↟，無論是生產過程中的質量控制·│↟，還是來料檢驗和材料效能檢驗中的隨機抽檢和全檢·│↟，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求·☁╃☁✘。
Ux-720微移動平臺和高畫質CCD搭配·│↟，旋鈕調節設計在殼體外部·│↟，觀察移動位置簡單方便·☁╃☁✘。
X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用·│↟，提高了大批次生產電鍍產品的檢驗條件·│↟，無損◕↟·、快速和更準確的特點·│↟，對在電子和半導體工業中品質的提升有了檢驗的保障·☁╃☁✘。
Ux-720鍍層測厚儀採用了華唯技術FlexFp -Multi·│↟，不在受標準樣品的限制·│↟，在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度·│↟，測試結果經得起科學驗證·☁╃☁✘。
樣品移動設計為樣品腔外部調節·│↟，多點測試時移動樣品方便快捷·│↟，有助於提升效率·☁╃☁✘。
設計更科學·│↟，軟硬體配合·│↟，機電聯動·│↟，輻射安全高於國標GBZ115-2002要求·☁╃☁✘。
軟體操作具有操作人員分級管理許可權·│↟，一般操作員◕↟·、主管使用不同的使用者名稱和密碼登陸·│↟，測試的記錄報告同時自動新增測試人的登入名稱·☁╃☁✘。
Ux-720標準配件
樣品固定支架1支
視窗支撐薄膜◕☁：100張
保險管◕☁：3支
計算機主機◕☁：品牌+雙核
顯示屏◕☁：19吋液晶
印表機◕☁：噴墨印表機
Ux-720可選配件
可升級為SDD探測器
可以實現全自動一鍵操作功能·│↟，準直器自動切換·│↟，濾光片自動切換·│↟，開蓋隨意自動停·│↟，樣品測試照片自動拍照◕↟·、自動儲存·│↟，測試報告自動彈出·│↟，供應商資訊自動篩選和儲存