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  • 和伍超聲掃描顯微鏡 裝置整機尺寸750mm(長)×700mm(寬)×1350mm(高)☁◕₪▩。安裝方案基於空間佔用最小化和維護/服務條件需要│₪•☁,保證在裝置周圍留有500mm的空間│₪•☁,可以方便工作人員進行操作₪•₪·、維護☁◕₪▩。
  • 和伍水浸超聲掃描顯微鏡 超聲掃描顯微鏡(SAT)是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像裝置│₪•☁,主要利用高頻超聲波│₪•☁,對各類半導體器件₪•₪·、材料進行檢測│₪•☁,能夠檢測出樣品內部的氣孔₪•₪·、裂紋₪•₪·、夾雜和分層等缺陷│₪•☁,並以圖形的方式直觀展示☁◕₪▩。在掃描過程中│₪•☁,不會對樣品造成損傷│₪•☁,不會影響樣品效能│₪•☁,可有效滿足新能源₪•₪·、半導體₪•₪·、電力電子₪•₪·、熱管理材料₪•₪·、金剛石複合材料₪•₪·、碳纖維複合材料等行業需求☁◕₪▩。
  • 日本電子熱場發射掃描電子顯微鏡 適用於奈米材料₪•₪·、化學₪•₪·、新材料₪•₪·、半導體器件的觀察和分析☁◕₪▩。
  • 日本電子掃描電鏡 ₪•₪·、日本JEOL掃描電子顯微鏡JSM-IT200 InTouchScope · JSM-IT200 InTouchScope™ 是一款更簡潔₪•₪·、更易於使用且價效比高的掃描電子顯微鏡☁◕₪▩。
  • 日本電子掃描電子顯微鏡 JCM-700強大的“Zeromag“功能│₪•☁,讓您從光學顯微鏡的觀察方式│₪•☁,輕鬆的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察☁◕₪▩。“Live Analysis“則實現了SEM影像觀察時實時的EDS成份分析☁◕₪▩。
  • 掃描探針顯微鏡(SPM)是在樣品表面用微小的探針進行掃描│₪•☁,透過高倍率觀察三維形貌和區域性物理特性的顯微鏡總稱☁◕₪▩。懸臂和樣品始終保持接觸│₪•☁,控制懸臂與樣品之間的相互作用保持一定狀態下│₪•☁,掃描樣品表面的模式☁◕₪▩。這是Z典型的AFM模式│₪•☁,可以得到目前Z高解析度影象☁◕₪▩。懸臂在諧振頻率附近震動☁◕₪▩。在懸臂震動的狀態下懸臂接近樣品時振幅會發生變化☁◕₪▩。
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